Système d'évaluation des caractéristiques de dégradation de l'isolation et de transport ioniqueUtilisation:
Face à des produits électroniques de plus en plus petits et légers et à des boîtiers haute densité, en raison de facteurs tels que l'absorption d'humidité par la condensation, le phénomène de mauvaise isolation et le phénomène de migration ionique sont de plus en plus importants, le système d'évaluation de la dégradation de la résistance d'isolation (migration ionique) est couplé à une Chambre d'essai haute température et haute humidité, qui peut être surveillée en continu avec une haute précision, une évaluation efficace et facile de la durée de vie et des problèmes liés à la dégradation de la résistance d'isolation causés par le phénomène de migration ionique.
Système d'évaluation des caractéristiques de dégradation de l'isolation et de transport ioniqueNormes applicables:
JPCA-ET04, IPC-TM-650_2.6.3F, IPC-TM-650_2.6.3.1E, IPC-TM-650_2.6.3.4A, IPC-TM-650_2.6.3.6.
Système d'évaluation des caractéristiques de dégradation de l'isolation et de transport ioniqueSpécifications techniques:
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Nom du produit |
Système d'évaluation des caractéristiques de dégradation de l'isolation et de transport ionique |
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modèle |
SIR13 |
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120VSubstrat |
250VSubstrat |
500VSubstrat |
1000VSubstrat |
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Département d'essais de substrats |
Gamme de résistance testée |
320Ωà120 TΩ |
320Ωà2,5 TΩ |
320Ωà250 TΩ |
320Ωà500TΩ |
320Ωà1000TΩ |
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Nombre de canaux de test |
8ch/Substrat |
16ch/Substrat |
8ch/Substrat |
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Câble de connexion |
2Paire de racines/Substrat 4Style de ligne |
2Paire de racines/Substrat Chargement du câble de test× 2 |
2Paire de racines/Substrat Charger le câble× 1, câble de test× 1 |
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Caractéristiques électriques |
électricité Pression plus Chargement Département |
Tension de chargement |
Gamme de tension1 |
0.10Và120.00V |
0.1Và250.0V |
1.0Và500.0V |
1.0Và1000.0V |
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Gamme de tension2 |
0.100Và12.000V |
- - |
- - |
- - |
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Charger la résolution de réglage |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Précision de chargement de base |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Grande puissance de sortie |
96mW/ch |
256mW / 8ch |
300 mW/h |
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Nombre de groupes chargés |
1Groupe (1ch/1Groupe) |
2Groupe (8ch/1Groupe) |
1Groupe (8ch/1Groupe) |
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Gamme de chargement |
2Gamme de mesure |
1Gamme de mesure |
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Nombre de canaux de chargement |
1ch |
8ch |
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Grande capacité de charge |
2.0μF / 1ch |
0,47μF / 8ch |
3300pF / 1ch |
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électricité Pression Montrer Montrer Le dispositif |
Gamme d'affichage |
2Gamme de mesure |
1Gamme de mesure |
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Affichage portée |
Gamme de tension1 |
0.00Và120.00V |
0.0Và250.0V |
0.0à500.0V |
0.0Và1000.0V |
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Gamme de tension2 |
0.000Và12.000V |
- - |
- - |
- - |
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Taux de division de l'affichage |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Précision d'affichage de base |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Unité de division d'affichage |
1ch |
1Groupe ou1ch |
1ch |
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Cycle d'affichage |
40 ms |
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Nombre de canaux d'affichage |
8ch |
16ch |
8ch |
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électricité Flux Mesurer Essai |
Gamme de test |
3Gamme de mesure |
2Gamme de mesure |
3Gamme de mesure |
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Affichage portée |
Gamme de courant1 |
0,00μAà320,00μA |
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Gamme de courant2 |
0,0000μAà3.2000μA |
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Gamme de courant3 |
0,00nAà32.000nA |
- - |
0.000nAà32.000nA |
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Réglage de l'échelle |
320,00μA·3,2000μA ·32.000nA·automatique |
320,00μA·3,2000μA·automatique |
320,00μA·3,2000μA·32,000nA·automatique |
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Tester une plus petite résolution |
Gamme de courant1 |
10nA |
10nA |
10nA |
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Gamme de courant2 |
100pA |
100pA |
100pA |
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Gamme de courant3 |
1pA |
1pA |
1pA |
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Précision de test de base |
±0.3%/FS |
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Nombre de canaux |
8ch |
16ch |
8ch |
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Cycle d'inclusion des données |
Régulièrement30 ans(plus petit)/Lorsque les ions migrent40 ms(plus petit) |
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Vitesse de test de migration ionique |
40 ms |
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Fuite détectée |
400 μs/h |
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Cycle d'essai |
40 ms |
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Autres fonctions |
Diagnostiquez vous - même |
Diagnostic de résistance standard externe ※Option |
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Chaîne |
Test de la fonction d'interruption automatique lorsque la porte de la boîte est ouverte ※Option |
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Détection de ligne brisée |
Fonction de détection de rupture de ligne de terminal |
- - |
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Inclusion de la température et de l'humidité à l'intérieur de la cuve d'essai |
Substrat de test de température et d'humidité supplémentaires, à l'aide de3CS·sans cléLogiciel plus grand peut être inclus4Données d'un slot ※Option |
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Inclusion de la température de l'échantillon |
par3CS SMUChaque canal peut être inclus1Un point ※Option |
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Plus grande composition du système |
SIR13 |
80ch(10Substrat) |
160ch(10Substrat) |
80ch(10Substrat) |
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SIR13mini |
24h(3Substrat) |
48ch(3Substrat) |
24h(3Substrat) |
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Département de contrôle |
Ordinateur de contrôle du système |
Windows XP Pro. SP2Adapté pourWindows 2000) etPentium 500 MHzCi - dessus Mémoire256 MoCi - dessus |
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Connexion du Département test |
GP-IBouréseau Ethernet |
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autre |
Contre - mesures de panne de courant |
Sauvegardez les données d'enregistrement avant qu'une panne de courant ne se produise et continuez à les enregistrer après la mise sous tension ※L'alimentation sans coupure de courant doit |
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Unité de contrôle |
Type de structure |
SIR13 |
SMU 10Style de fente Dimensions extérieures: W430 × H300 × D620※Ne contient pas de parties protubérantes Poids: environ30kg(SMU 10Lorsqu'ils sont équipés) Courant consommé:5ACi - dessous (100VLorsqu'il est utilisé) |
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SIR13mini |
SMU 3Style de fente Dimensions extérieures: W220 × H370 × D390※Ne contient pas de parties protubérantes Poids: environ20 kg(SMU 3Lorsqu'ils sont équipés) Courant consommé:2ACi - dessous (100VLorsqu'il est utilisé) |
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Résistance au bruit |
1 μsImpulsions2KV 1minute |
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Résistance d'isolation |
DC500V 100MΩCi - dessus |
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Utiliser la puissance |
AC85Và264V 50/60Hz |
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Environnement d'utilisation |
température+10℃à+40℃ humidité75 % RHCi - dessous (pas de rosée) |
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Préserver l'environnement |
température-10℃à+ 60℃ |
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Système d'évaluation des caractéristiques de dégradation de l'isolation et de transport ionique Image du produit
